Zlecenie 7997309 - Wdrożenie wyników prac B+R w Chemnovatic Sp. z o.o. Sp. k....

ach nikotyny

FT-NIR Podstawowe minimalne parametry techniczne: I. Dynamicznie wyrównany interferometr dla sygnału ciągłego II. Stosunek sygnału do szumu lepszy niż 10 uABS III. Rozdzielczość od 4 do 32 cm-1 IV. Uszczelniony i osuszany spektrometr z okienkami kwarcowymi; V. Interferometr justowany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania. Mechanizm dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera, padającą na trójpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego zwierciadeł interferometru. Automatyczna optymalizacja energii; VI. Detektor na zakres NIR InGaAs; VII. Dzielnik wiązki CaF2; VIII. Źródło halogenowe NIR o wysokiej intensywności, dostęp z zewnątrz, możliwość wymiany przez użytkownika; IX. Zintegrowane elektronicznie czujniki temperatury i wilgotności chroniące spektrometr przed potencjalnym uszkodzeniem w ekstremalnych warunkach; X. System osuszania optyki z wkładami osuszającymi w metalowej obudowie z możliwością regeneracji w suszarce. Wymiana wkładów osuszających bez zdejmowania obudowy aparatu. Wskaźnik poziomu wilgotności na wierzchu aparatu. Nie dopuszcza się systemów osuszania wymagających podłączania aparatu do sieci elektrycznej; XI. Komunikacja spektrometru z komputerem przez złącze USB 2.0/3.0; XII. Zakres spektralny co najmniej 11 000 – 3 800 cm-1; XIII. Aktywna diagnostyka w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu; XIV. Zewnętrzny wzorzec polistyrenowy 0,8 mm; XV. Zestaw co najmniej 4 filtrów w celu optymalizacji energii; XVI. Opakowanie fiolek szklanych o średnicy 6 mm liczące co najmniej 720 szt.; XVII. Uchwyt na fiolki umieszczany w komorze przedziału próbek; XVIII. Sterowanie przez zewnętrzny komputer PC. Program obsługi spektrometru co najmniej w języku polskim i angielskim kompatybilny z systemem operacyjnym 64-bit. Automatyczny wybór wersji językowej przy logowaniu do systemu operacyjnego i przez wybór opcji regionalnych w panelu sterowania systemu operacyjnego. Musi zapewniać: - logowanie użytkowników z hasłami i różnymi poziomami dostępu; - funkcja automatycznego doboru wzmocnienia sygnału; - funkcje wykonywania eksperymentów i analizy danych we wszystkich rodzajach eksperymentów; - procedurę Auto-Tune - automatycznego ustawiania aparatu na maksimum energii z poziomu oprogramowania; - możliwość ustawiania zaawansowanych parametrów pomiarowych - funkcji apodyzacji (co najmniej Happ-Genzel, Beer-Norton, Blackman-Harris, Boxcar, Triangle, Cosine), korekcji fazy (Mertz, Power, deHaseth), wypełniania zerami (0, 1x, 2x), cyfrowych filtrów górnoprzepustowych i dolnoprzepustowych; - podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd dokumentów w w postaci graficznej); - dostęp do surowych danych łącznie z interferogramem; - bezpośrednie otwieranie i zapisywanie danych spektralnych w najczęściej wykorzystywanych formatach widm IR, co najmniej spc (m.in. GRAMS), spa (m.in. OMNIC), dx/jdx (JCAMP-DX), dx/jdx (JCAMP-DX), txt/csv (ASCII), gaml (GAML), abs/ras (WinFIRST); - funkcje przetwarzania widm: korekcja linii bazowej – automatyczna i manualna, dekonwolucja, odejmowanie spektralne, wyznaczanie pochodnych, znajdowanie maksimów, wygładzanie, pomiar wysokości i położenia pasma, pomiar pola powierzchni pasm - bezwzględnej i względnej; - przeszukiwanie bibliotek w celu identyfikacji widma nieznanej próbki oraz/lub porównania z widmem wzorca; - tworzenie własnych bibliotek użytkownika; - biblioteki widm obejmujące co najmniej 600 widm; - możliwość odtwarzania podprogramów/makroinstrukcji do automatycznego wykonywania zadań wybranych przez użytkownika; - moduł spektralnej interpretacji widm; - automatyczna korekcja zawartości CO2 i pary wodnej przez oprogramowanie bez konieczności zbierania widm referencyjnych; - wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w trakcie pomiaru); - automatyczne wykonywanie testów jakości widm z informowaniem użytkownika m.in. o niepożądanych pasmach spektralnych w widmie tła, nieprawidłowym kształcie pasm, obecności pasm całkowicie absorbujących, nachyleniu linii podstawowej, zbyt małej energii interferogramu; - aktywna diagnostyka w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu; - wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów; - archiwizowanie gotowych raportów w nieedytowalnych skoroszytach elektronicznych z funkcją przeszukiwania skoroszytów umożliwiającą szybkie dotarcie do każdego raportu; - moduł oprogramowania do analiz chemometrycznych obejmujący algorytmy analizy ilościowej i klasyfikacyjnej – co najmniej następujące: 1) do analiz ilościowych: • Prawo Lamberta-Beera; • CLS (klasyczna metoda najmniejszych kwadratów); • MLR (wielokrotnej regresji liniowej); • PLS (regresji cząstkowych najmniejszych kwadratów); • PCR (regresji głównych składowych); • Łączonych metod wielokrotnych; 2) do analiz klasyfikacyjnych: • Search Standards (przeszukiwanie biblioteki wzorców z analizą korelacji, także dla pochodnych widm); • Similarity match (wektorowa analiza podobieństwa); • QC compare (analiza korelacyjna widm uśrednionych); • Analiza dyskryminacyjna; • Distance match (do oceny, jak ściśle nieznany materiał pasuje do jednej z dwóch lub więcej klas znanych materiałów); - moduł rozszerzonej analizy widm obejmujący algorytm jednoczesnej wieloskładnikowej identyfikacji widm, pozwalający na identyfikację składników próbki w trakcie pojedynczego przeszukiwania biblioteki, bez konieczności stosowania odejmowania widm poszczególnych składników; XIX. Integralny zestaw komputerowy do obsługi aparatu o parametrach nie gorszych niż: procesor wielordzeniowy, zaprojektowany do pracy w komputerach stacjonarnych , 4GB RAM, HDD 256 SSD, monitor 21" LCD, DVD-RW, mysz optyczna, klawiatura, system operacyjny, drukarka laserowa kolorowa; XX. Gwarancja co najmniej 12 miesięcy.Spektrofotometr FTIR Podstawowe minimalne parametry techniczne: I. Zdolność rozdzielcza lepsza niż 0,8 cm-1; II. Precyzja długości fali ±0,001 cm-1; III. Stosunek sygnału do szumu lepszy niż 35 000 : 1; IV. Powtarzalność długości fali ±0,05 cm-1; V. Zakres spektralny, co najmniej 7 800 – 350 cm-1; VI. Zakres dynamiczny przetwornika ADC – 24 bity; VII. Szczelny i osuszany układ optyczny z okienkami KBr pokrytymi BaF2 oddzielającymi optykę od przedziału próbek; VIII. Interferometr justowany dynamicznie w trakcie skanowania. Mechanizm dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera, padającą na trójpozycyjny detektor laserowy do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego zwierciadeł interferometru; IX. Układ optyczny wykorzystujący monolityczne lustra wzorcowe; X. Ogniskowanie wiązki centralnie w komorze pomiarowej aparatu; XI. Ceramiczne trwałe źródło promieniowania IR, montowane zewnętrznie, wymienialne przez użytkownika; XII. Beamsplitter Ge/KBr; XIII. Detektor DLaTGS; XIV. Komunikacja spektrometru z komputerem przez złącze USB 2.0/3.0; XV. Automatyczne rozpoznawanie przez system akcesoriów pomiarowych takich jak moduł do pomiarów transmisyjnych, przystawki ATR, przystawki rozproszeniowe i inne; XVI. System osuszania optyki z wkładami osuszającymi w metalowej obudowie z możliwością regeneracji w suszarce. Wymiana wkładów osuszających bez zdejmowania obudowy aparatu. Wskaźnik poziomu wilgotności na wierzchu aparatu. Nie dopuszcza się systemów osuszania wymagających podłączenia aparatu do sieci elektrycznej; XVII. Wbudowana na stałe w aparat automatyczna przystawka do testowania spektrometru z kołem z certyfikowanym wzorcem polistyrenowym; XVIII. Kompaktowa konstrukcja:  masa spektrometru nie przekraczająca 10 kg;  wymiary podstawy nie przekraczające 35 x 30 cm; XIX. Zasilacz spektrometru umieszczony na zewnątrz aparatu o wymiarach nie przekraczających 12 x 6 x 4 cm eliminujący wprowadzanie wysokiego napięcia (prądu zmiennego 230V) do aparatu i zapewniający podwyższoną stabilność termiczną systemu; XX. Przystawka pomiarowa do pomiarów transmisyjnych, wyposażona w co najmniej 10 szyn prowadzących do mocowania standardowych akcesoriów transmisyjnych. Przystawka powtarzalnie mocowana w przedziale pomiarowym i integrująca się z obudową spektrometru – po założeniu uszczelniająca drogę optyczną i jednocześnie włączona w system przedmuchu; XXI. Wysokociśnieniowa przystawka ATR do szybkiego pomiaru próbek z litym kryształem diamentowym pokrywającym pełny zakres spektralny spektrometru; Przystawka wyposażona w odchylane urządzenie dociskowe o powtarzalnej sile docisku z mechanizmem dynamometrycznym, automatycznie rozpoznawana przez spektrometr z automatycznym ładowaniem optymalnych parametrów analizy. Przystawka powtarzalnie mocowana w przedziale pomiarowym i integrująca się z obudową spektrometru - po założeniu uszczelniająca drogę optyczną i jednocześnie włączona w system przedmuchu; XXII. Pełna dokumentacja kwalifikacyjna DQ/IQ/OQ wraz z procedurami IQ/OQ. Kwalifikacja OQ wykonywana w oparciu o wytyczne Farmakopei Europejskiej w oparciu o certyfikowane wzorce. Oprogramowanie do kwalifikacji spektrometru, przystawek oraz algorytmów oprogramowania z rejestracją historii wyników oraz tworzeniem wykresów trendu; XXIII. Dokumentacja do stworzenia procedur PQ – kwalifikacja procesu; XXIV. Sterowanie przez zewnętrzny komputer PC. Program obsługi spektrometru co najmniej w języku polskim i angielskim kompatybilny z systemem operacyjnym 64-bit. Automatyczny wybór wersji językowej przy logowaniu do systemu operacyjnego i przez wybór opcji regionalnych w panelu sterowania systemu operacyjnego. Musi zapewniać:  logowanie użytkowników z hasłami i różnymi poziomami dostępu;  funkcja automatycznego doboru wzmocnienia sygnału;  funkcje wykonywania eksperymentów i analizy danych we wszystkich rodzajach eksperymentów;  procedurę Auto-Tune – automatycznego ustawiania aparatu na maksimum energii z poziomu oprogramowania;  możliwość ustawiania zaawansowanych parametrów pomiarowych – funkcji apodyzacji (co najmniej Happ-Genzel, Beer-Norton, Blackman-Harris, Boxcar, Triangle, Cosine), korekcji fazy (Mertz, Power, deHaseth), wypełniania zerami (0, 1x, 2x), cyfrowych filtrów górnoprzepustowych i dolnoprzepustowych;  podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd dokumentów w postaci graficznej);  dostęp do surowych danych łącznie z interferogramem;  bezpośrednie otwieranie i zapisywanie danych spektralnych w najczęściej wykorzystywanych formatach widm IR, co najmniej: spc (m.in. GRAMS), spa (m.in. OMNIC), dx/jdx (JCAMP-DX), txt/csv (ASCII), gaml (GAML), abs/ras (WinFIRST);  funkcje przetwarzania widm: korekcja linii bazowej – automatyczna i manualna, dekonwolucja, odejmowanie spektralne, wyznaczanie pochodnych, znajdowanie maksimów, wygładzanie, transformacja Kramersa Kroniga, korekcja ATR, pomiar wysokości i położenia pasma, pomiar pola powierzchni pasm – bezwzględnej i względnej;  funkcja rozkładu pasm na składowe z algorytmem konwergencji typu Fletcher-Powell-McCormick, uwzględniająca co najmniej następujące typy pasm: Gaussian, Lorentzian, mieszany Gaussian/Lorentzian, Voigt;  przeszukiwanie bibliotek w celu identyfikacji widma nieznanej próbki oraz/lub porównania z widmem wzorca;  tworzenie własnych bibliotek użytkownika;  biblioteki widm obejmujące co najmniej 10 tys. widm związków organicznych, nieorganicznych, polimerów;  możliwość odtwarzania podprogramów/makroinstrukcji do automatycznego wykonywania zadań wybranych przez użytkownika;  moduł spektralnej interpretacji widm;  moduł oprogramowania do analiz chemometrycznych obejmujący co najmniej następujące algorytmy analizy ilościowej i klasyfikacyjnej: 1) do analiz ilościowych: • Prawo Lamberta-Beera; • CLS (klasyczna metoda najmniejszych kwadratów); 2) do analiz klasyfikacyjnych: • Search Standards (przeszukiwanie biblioteki wzorców z analizą korelacji, także dla pochodnych widm); • Similarity match (wektorowa analiza podobieństwa);  automatyczna korekcja zawartości CO2 i pary wodnej przez oprogramowanie bez konieczności zbierania widm referencyjnych;  wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w trakcie pomiaru);  automatyczne wykonywanie testów jakości widm z informowaniem użytkownika m.in. o niepożądanych pasmach spektralnych w widmie tła, nieprawidłowym kształcie pasm, obecności pasm całkowicie absorbujących, nachyleniu linii podstawowej, zbyt małej energii interferogramu;  aktywna diagnostyka w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu;  wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów;  archiwizowanie gotowych raportów w nieedytowalnych skoroszytach elektronicznych z funkcją przeszukiwania skoroszytów umożliwiającą szybkie dotarcie do każdego raportu;  moduł rozszerzonej analizy widm obejmujący algorytm jednoczesnej wieloskładnikowej identyfikacji widm, pozwalający na identyfikację składników próbki w trakcie pojedynczego przeszukiwania biblioteki, bez konieczności stosowania odejmowania widm poszczególnych składników; XXV. Integralny zestaw komputerowy do obsługi aparatu o parametrach nie gorszych niż: procesor wielordzeniowy, zaprojektowany do pracy w komputerach stacjonarnych , 4GB RAM, HDD 256 SSD, monitor 22" LCD, DVD-RW, mysz optyczna, klawiatura, system operacyjny, drukarka laserowa kolorowa; XXVI. Gwarancja co najmniej 12 miesięcy. XXVII. Gwarancja na kryształ diamentowy co najmniej 5 lat.Dwuwiązkowy spektrofotometr UV-VIS Podstawowe minimalne parametry techniczne: I. Pulsacyjna lampa ksenonowa; II. Rozdzielczość spektralna – szczelina 1 nm; III. Dokładność długości fali nie gorsza niż 0,2 nm; IV. Powtarzalność długości fali ±0,01 nm; V. Zakres spektralny 190 – 1100 nm; VI. Dwa gniazda pomiarowe umożliwiające jednoczesny pomiar próbki i odnośnika; VII. Monochromator typu Czerny Turnera z szybkim mechanizmem przesuwu – 31 000 nm/min.; VIII. Oddzielna komora dla prób odniesienia; IX. Możliwość pomiarów z otwartą komorą pomiarową; X. Możliwość zainstalowania modułu z certyfikowanymi wzorcami do automatycznej walidacji aparatu wraz z generacją raportu zawierającego informacje o akceptacji lub odrzuceniu wyników (PASS/FAIL); XI. Wymienny moduł detektora; XII. Możliwość pracy z akcesoriami posiadającymi własne zintegrowane detektory; XIII. Wbudowany port umożliwiający podłączenia lampy rtęciowej do sprawdzania dokładności długości fal; XIV. Komunikacja spektrometru z komputerem przez port USB 2.0; XV. Szybkość skanowania zmienna w zakresie co najmniej od 1 do 6 000 nm/min.; XVI. Zakres fotometryczny >3,5 Abs; XVII. Dokładność absorbancji przy 1 Abs nie gorsza niż 0,002 Abs; XVIII. Szum przy 0 Abs: <0,00008 Abs; XIX. Światło rozproszone: ≤ 0,40%T przy 198 nm (KCl) ≤ 0,027%T przy 220 nm (NaI) ≤ 0,025%T przy 340 nm (NaNO2); XX. Stabilność fotometryczna lepsza niż 0,0005 Abs/h; XXI. Diagnostyka systemu przy każdorazowym włączeniu; XXII. Oprogramowanie sterujące pracą spektrofotometru pracujące w środowisku systemów operacyjnych; XXIII. Wbudowane oprogramowanie oparte na skoroszytach obejmujących zestaw następujących elementów:  parametry pomiarowe aparatu: 1) konfigurację akcesoriów do pomiaru próbek; 2) informację o próbkach; 3) informację o kalibracji w analizie ilościowej; 4) wyniki pomiaru próbek;  konfiguracja raportu; XXIV. Tryb pracy:  pomiar przy stałej długości fali z cyfrowym i graficznym wyświetlaniem wyników i możliwością ustawienia tolerancji wyników;  zdejmowanie i obróbka widm z wyświetlaniem wyników w trybie Abs, %T, log A, log (1/R), intensywność, %R, Kubelka – Munk; wyszukiwaniem charakterystycznych punktów widma – maksimów i minimów, przejść przez zero; wykonaniem podstawowych operacji arytmetycznych na widmach: dodawanie, odejmowanie, dzielenie, mnożenie, wyznaczanie pochodnych, wygładzanie; funkcjami wyznaczania wysokości pasma i pola powierzchni;  pomiary ilościowe z krzywymi kalibracji (1., 2. i 3. Stopnia z wymuszeniem przejścia przez zero lub nie) z podawaniem współczynnika korelacji, z wyborem trzech powtórzeń dla każdego wzorca, z możliwością wyłączenia wybranych pomiarów wzorców i zmianą dopasowania krzywej, z wykonaniem obliczeń na wynikach przy użyciu wbudowanego edytora równań;  pomiary kinetyczne (do 100 pomiarów w czasie 1 sekundy), z pomiarem reakcji w segmentach z różnymi czasami i różną częstotliwością próbkowania, funkcjami dopasowania danych do reakcji zerowego, pierwszego i drugiego rzędu oraz analizą danych w wybranych segmentach;  możliwość wydruków raportów zdefiniowanych przez użytkownika;  eksport wyników co najmniej w formatach XML, CSV i TSV; XXV. Zintegrowane oprogramowanie do tworzenia i wykonywania makroinstrukcji/gotowych procedur pomiarowych umożliwiających stworzenie gotowego toku analizy prowadzącego użytkownika krok po kroku z możliwością wykorzystania co najmniej następujących elementów:  monitorowanie użytkowników o podanie parametrów bądź wykonanie innych czynności;  podejmowanie decyzji na podstawie ustalonych kryteriów;  wykonywanie złożonych obliczeń matematycznych;  określanie kryteriów akceptacji / odrzucenia wyników; XXVI. Oprogramowanie do tworzenia procedur oparte na schematach blokowych, nie wymagające do obsługi znajomości języków programowania; XXVII. Zintegrowany moduł do sterowania spektrofotometrem za pomocą tabletu razem z tabletem o parametrach co najmniej: system operacyjny, 256 GB SSD. 4 GB RAM, ekran HD; XXVIII. Walidacja IQ/OQ wraz z pełną dokumentacją; XXIX. Kuweta kwarcowa o długości drogi optycznej 10 mm z teflonową przykrywką, pojemność 3,5 ml – 4 sztuki; XXX. Gwarancja – minimum 12 miesięcy.