Przetarg 12188188 - Usługa wykonania badań metodą PXRD próbek z powłokami...

lizą wyników w ramach zamówienia o nr postępowania: ZP_37_2025_WMT_ITW prowadzonego przez Wydział Mechaniczny Technologiczny Politechniki Warszawskiej o warunkach określonych poniżej. Wymiary próbek: ok 20x20 mm, grubość do 10mm. Odbiór próbek od Zleceniodawcy leży po stronie Wykonawcy.Usługa obejmuje:• przygotowanie próbek do analiz PXRD warstw, obejmujące czyszczenie i montaż próbek w uchwycie pomiarowym, wyrównanie powierzchni warstwy względem wiązki promieniowania oraz dobór odpowiedniej geometrii pomiaru (Zleceniodawca przygotuje badane powierzchnie na papierze ściernym o numerze 800);• rejestracja dyfraktogramów dla każdej próbki w geometrii refleksyjnej lustrzanego odbicia paraogniskującej, rozbieżnej wiązki RTG (geometria Bragg-Brentano);• wykonanie pomiarów o odpowiednio wysokiej statystyce, umożliwiającej detekcję i analizę śladowych faz krystalicznych oraz przeprowadzenie analiz Rietvelda;• porównanie położenia i intensywności obserwowanych na dyfraktogramie refleksów z położeniem i intensywnością refleksów na osi 2θ odpowiadających strukturom referencyjnym zgromadzonym w bazie ICDD PDF 5 2025 (identyfikacja obecnych w próbce faz krystalicznych);• analizę strukturalną i mikrostruktury zidentyfikowanych faz krystalicznych, tj. grupa przestrzenna komórki elementarnej i jej parametry: a, b, c, α, β, γ; mikrostruktura domen krystalicznych;• przygotowanie raportu z uzyskanych wyników dla badanych próbek.

ZP_37_2025_WMT-ITW