Przetarg 11561469 - Przedmiotem zamówienia jest zestaw mikroskopu sił...

ur półprzewodnikowych, w szczególności wytworzonych metodą MBE na podłożach GaN, składający się z:1) Niezależnych skanerów w osi Z oraz XY przy czym skaner osi Z jest zintegrowany w głowicy mikroskopu, a skaner XY, jest elementem stolika skanującego.2) Zautomatyzowanego stolika umożliwiającego pomiary podłoży o średnicy 2” , jak również pomiary mniejszych próbek.3) Zestawu optycznego do podglądu próbki4) Elektronicznego, cyfrowego kontrolera mikroskopu5) Komory dźwiękochłonnej i aktywnej platformy antywibracyjnej.6) Zestawu komputerowegoSzczegółowy opis przedmiotu zamówienia znajduje się punkcie 3 SWZ
Część zamówienia: LOT-0001 Dostawa mikroskopu sił atomowych umożliwiającego pomiary automatyczne Przedmiotem zamówienia jest zestaw mikroskopu sił atomowych (ang. atomic force microscope- AFM) umożliwiający pomiar topografii i innych właściwości podłoży oraz warstw epitaksjalnych struktur półprzewodnikowych, w szczególności wytworzonych metodą MBE na podłożach GaN, składający się z:1) Niezależnych skanerów w osi Z oraz XY przy czym skaner osi Z jest zintegrowany w głowicy mikroskopu, a skaner XY, jest elementem stolika skanującego.2) Zautomatyzowanego stolika umożliwiającego pomiary podłoży o średnicy 2” , jak również pomiary mniejszych próbek.3) Zestawu optycznego do podglądu próbki4) Elektronicznego, cyfrowego kontrolera mikroskopu5) Komory dźwiękochłonnej i aktywnej platformy antywibracyjnej.6) Zestawu komputerowegoSzczegółowy opis przedmiotu zamówienia znajduje się punkcie 3 SWZ